NanoScan 2s 系列狹縫掃描式光束分析儀#優(yōu)劣勢(shì)對(duì)比
更新時(shí)間：2024-03-27
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NanoScan 2s 系列狹縫掃描式光束分析儀，源自2010 年加入OPHIR 集團(tuán)的PHOTON INC。PHOTON INC 自 1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀，在光通訊、LD/LED 測(cè)試等領(lǐng)域享有盛名。掃描式與相機(jī)式光斑分析儀的互補(bǔ)聯(lián)合使得OPHIR 可提供完備的光束分析解決方案。
掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù)，通過(guò)狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分，將取樣部分通過(guò)單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度，再通過(guò)掃描狹縫 / 小孔的位置，復(fù)原整個(gè)光斑的分布。
| 掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn) | 掃描式光束分析儀的缺點(diǎn) | |
| 取樣尺度可以到微米量級(jí)，遠(yuǎn)小于CCD像素，可獲得較高的空間分辨率而無(wú)需放大； | 多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光； | |
| 采用單點(diǎn)探測(cè)器，適應(yīng)紫外-中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段； | 不適合非典型分布的激光，近場(chǎng)光斑有熱斑、有條紋等的狀況。 | |
| 適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析； | 掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系；在很多應(yīng)用，如小光斑測(cè)量（焦點(diǎn)測(cè)量）、紅外高分辨率光束分析等方面，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢(shì)。 |
